Patent examination guidelines
authors: Cheon Sechang, Kang Heumjeng, Kang Wongil, Shin Weonhye, Kim Junghoon, Hyun Jaeyong, Yang Woongchul, Lee Jiyoung
Korean Intellectual Property Office·2017-12-01
- 939쪽
- 180×260mm
- 기술과학
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